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用途:用于獲取材料表面的納米級三維形貌結構，納米力學，納米電學性能等
型號:Dimension Icon、Dimension Edg、Dimension Edge PSS等
基本參數:
●垂直方向分辨率:<0.1 nm
●水平方向分辨率:<1nm
●Z方向掃描范圍:<10 um
●XY方向掃描范圍:90um X 90um(典型值)
●樣品臺尺寸:210 mm
功能模塊:
●Peak force tapping:峰值力輕敲模式
● Peak force Tuna:表征納米電學
● Peak force QNM:表征納米力學
●Peak force SECM:表征納米電化學
●Peak force KPFM:表征納米表面電勢
技術優勢:
●最先進的XYZ全探針掃描方式和全自動大樣品臺
●獨有的Peak froce Tapping專利技術和智能掃描模式(ScanAsyst)
●最完整的力學、電學、電化學測試功能和最靈活的拓展性
用途:用于獲取材料表面的納米級三維形貌結構，納米力學，納米電學性能等
型號:Dimension Icon、Dimension Edg、Dimension Edge PSS等
基本參數:
●垂直方向分辨率:<0.1 nm
●水平方向分辨率:<1nm
●Z方向掃描范圍:<10 um
●XY方向掃描范圍:90um X 90um(典型值)
●樣品臺尺寸:210 mm
功能模塊:
●Peak force tapping:峰值力輕敲模式
● Peak force Tuna:表征納米電學
● Peak force QNM:表征納米力學
●Peak force SECM:表征納米電化學
●Peak force KPFM:表征納米表面電勢
技術優勢:
●最先進的XYZ全探針掃描方式和全自動大樣品臺
●獨有的Peak froce Tapping專利技術和智能掃描模式(ScanAsyst)
●最完整的力學、電學、電化學測試功能和最靈活的拓展性
